Bildiri
Özet Bildiri
Uluslararası
2020
Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate
1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi
Erzurum · 24.11.2020–25.11.2020 · 24.11.2020
Atıf için künye
Kanmaz, I., Güzeldir, B., & ÜZÜM, A. (2020). Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate. 1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi, Erzurum.
BibTeX
@inproceedings{kanmaz2020-65791,
author = {Kanmaz, Imran and Güzeldir, Betül and ÜZÜM, ABDULLAH},
title = {Effect of low molarity HfO2 thin films on the reflectance properties of polished silicon substrate},
booktitle = {1. Uluslararası Palandöken Bilimsel Çalışmalar Kongresi},
address = {Erzurum},
year = {2020},
url = {https://akademik.atauni.edu.tr/yayinlar/65791-effect-of-low-molarity-hfo2-thin-films-on-the-reflectance-properties-of-polished}
}