Modifiye Hummers Yöntemi ile Elde Edilen Grafen Oksit Sentezleri İçin: Kısım 2, X Işını Fotoelektron Spektroskopisi Analizi

Bu çalışmada, X Işını Fotoelektron Spektroskopisi analizi ile Hummers yönteminde bir reaktif olarak kullanılan sodyum nitrat konsantrasyonunun değiştirilmesi ile elde edilen sentezlerin grafen okside dönüşüp dönüşmediği ve değişen yapısal özellikleri incelenmiştir. Kimyasal oksidasyondan sonra, 284,8 eV’de asimetrik olarak merkezlenmiş C1s genel spektrumuna uygulanan Gaussian veya Lorentz dağılım analizleriyle, yapıda farklı sayıda oksijen içeren fonksiyonel grupları (epoksi ve fenolik karbon (C-O), karbonil (C=O) ve karboksil (O-C=O)) temsil eden yeni sinyaller belirlenmiştir. Bu grupların, grafitteki sp2 hibridize karbon atomu (C-C/C=C) pikinde oluşturduğu kusur ve bozukluk nedeniyle pik yoğunluğunda önemli bir düşüşe yol açtığı gözlenmiştir. Grafit için C/O atom oranı 42,48 iken, grafen oksit numunelerinde bu değerin 1,74’e düşmesi ve grafit bazal düzlemine bağlanmış farklı oksijen içerikli fonksiyonel grupların ortaya çıkması, kimyasal oksidasyonun başarılı denecek şekilde gerçekleştiğini göstermiştir. Sentezlenen numunelerde N1s pikine hiç rastlanmaması, ürünlerin saf olduğunu ortaya koymaktadır. Sentez analizleri sonucunda, yapıdaki grupların bağ enerji değerlerinin literatür ile uyum içerisinde olduğu gözlenmiştir. Tüm bu sonuçlar ışığında farklı özelliklere sahip grafen oksit örneklerinin başarılı bir şekilde sentezlendikleri ifade edilebilir.