WDXRF sistemi kullanılarak Numune Kalınlığına bağlı olarak Compton ve Koherent saçılma Piklerindeki Değişimlerin İncelenmesi

Elif Boydaş (Yürütücü), Demet Yılmaz (Araştırmacı), Ali Gürol (Araştırmacı), Yakup Kurucu (Araştırmacı), RIZA TATLISU (Araştırmacı)